“东芝铼钨8mil*2inch probe card探针”参数说明
封装: | 晶圆测试探针 | 功能结构: | 数/模混合集成电路 |
制作工艺: | 半导体集成电路 | 导电类型: | 单极型 |
外形: | 圆形 | 集成度高低: | 大规模集成电路 |
应用领域: | 标准通用 | 规格: | 5、6、7、8、9、10mil |
钨97%: | 铼3% | 产量: | 9999999999 |
“东芝铼钨8mil*2inch probe card探针”详细介绍
东芝铼钨晶圆中测探针:钨97%,铼3%,长度、针尖锥度可根据客户要求定制,产能4000支/日,表面镀镍 材料成分:铼3%,钨97% 直径:0.25MM,0.228MM,0.2MM,0.178MM,0.15MM 长度:1.5inch,2.0inch,,2.5inch 直线度:0.2% 针尖长度:1.5-4.0MM,可定制二段及多段尺寸 针尖大小:0.001MM 针尖锥度:1.5-3度 针尖成型方法:电解研磨 熔点:3410℃ 硬度:850HV 密度:19.3g/mm3 电阻值:8uΩ .cm 表面处理:电镀镍 使用寿命:>1000W次